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主要特征
•高速高生产量测试系统适合背板和服务器主板
•16测试头
•试验区24"×39.6"（610mm×1000mm）
•柔性电路板的张力选项
•可选择20或24测试头板尺寸可达27"×59,2"（670毫米×500毫米）
主要特征
•系统给高端HDI，挠性试验和标准基板测试
•8测试头
•测试区域24″×20″（610mm×510mm）
•氣動張力梭适合柔軟和薄板
主要特征
•步进电机驱动技术经的济型测试系统
•8测试头
•测试区域610毫米×460毫米（24"×18")
•張力梭适合柔軟和薄
主要特征
•系统给高端HDI，挠性试验和标准基板测试
8测试头
•最大测试区域610毫米×310毫米（24.0"×12.2")
•摄像机每个像素3微米的分辨率
主要特征
•高生产量测试系统适合生产面板和复杂的服务器主板
•16测试头
•试验区域24"×24.4"（610毫米×620毫米）
•柔性电路板的张力选项
A5 Neo
A5 Neo结合了负担得起的技术与所有探测系统的增强测量方法。随着新的紧张穿梭A5 Neo能测试一个广泛范围的产品。
A7
A7是我们最畅销的商品。系统集高速，紧凑的尺寸和灵活性。
A7-16
这个新的飞针测试系统配备有16 - 24之间的测试头，最多达12个摄影机光学对准和最新运动系统的设计直接线性驱动技术，即使在大格式最高的精度和测试速度。 A7-16是专为电信行业的大型服务器和后面板应用。
A8 plus
A8-8 plus的测试头是比A7的小。因此该系统比A7提供了更多测试头在相同的试验区。这意味着更高的速度和吞吐量。在一个特殊的高清晰度摄像机，玻璃校准板和微探针结合该系统能够测试结构下降到一个尺寸为25μ。
A8-16
A8-16的测试头是比A7的小。因此该系统提供了比A7更多头在相同的试验区。这意味着更高的速度和吞吐量。随着A8-16你转移向高数量经济盈亏平衡点。